球差校正电镜测试
设备:JEM-ARM200F 品牌：日本电子
——主要用途 通过环形明场、环形暗场、能谱、电子能量损失谱获得材料的原子结构信息。
——主要参数和特点
1. 聚光镜校正，可同时获取样品的ADF、ABF图像
2. 加速电压:60 keV及200 keV
3. 配备能谱探头及GIF EELS能量过滤器
——代表性工作
Adv. Mater. 2022, 2203503
Adv. Funct. Mater. 2021, 2109529; 2022, 202112956; 2022, 2205880 Angew. Chem. Int. Edt. 2022, 202201323
Acta Mater. 2022, 117873: 2022, 118338
Talos F200S 透射电子显微镜测试
设备：Talos F200S 品牌：赛默飞
◼ 主要用途 1. 微结构解析，包括获得材料微区的形貌、晶体结构、元素组成等. 2. 磁结构观察，即磁性材料中磁畴的形态、种类，外加磁场下磁畴的演变过程. 3. 温度、磁场等作用下，材料的微结构、磁结构的动态响应过程观察.
◼ 实例
高水平发表论文
- Adv. Mater.2022, 2203503
- Adv. Fun. Mater. 2021, 2109529;2022, 202112956; 2022, 2205880
- Angew. Chem. Int. Edt 2022, 202201323 Nat. Sci. Rev. 2022, nwac041
- Acta Mater. 2022, 117873; 2022, 118338
- J. Mater. Sci. Tech. 2023, 54-64 Materials Today Nano 2022, 100230......
◼ 主要参数和特点
- 热场发射电子枪，加速电压 200kV，HRTEM最大放大倍率105万倍，信息分辨率0.12nm;STEM分辨率0.16nm
- 配置洛伦兹透镜，保证在无场环境下对磁性样品的观察，洛伦兹模式下点分辨小于2.5nm.
- 配备多分割式STEM探头与实时DPC/iDPC成像模块，可用于轻重元素同时成像以及样品电、 磁等内势场的研究.
- 原位加磁场测试，垂直方向磁场(0-1T);原位温度杆(高温双倾杆:室温-900°C;冷电 单倾杆:95K-300K，交直流均可，0-100mA)