球差校正电镜测试
设备:JEM-ARM200F 品牌：日本电子
——主要用途 通过环形明场、环形暗场、能谱、电子能量损失谱获得材料的原子结构信息。
——主要参数和特点
1. 聚光镜校正，可同时获取样品的ADF、ABF图像
2. 加速电压:60 keV及200 keV
3. 配备能谱探头及GIF EELS能量过滤器
——代表性工作
Adv. Mater. 2022, 2203503
Adv. Funct. Mater. 2021, 2109529; 2022, 202112956; 2022, 2205880 Angew. Chem. Int. Edt. 2022, 202201