球差校正电镜测试
设备:JEM-ARM200F 品牌:日本电子
——主要用途 通过环形明场、环形暗场、能谱、电子能量损失谱获得材料的原子结构信息。 ——主要参数和特点 1. 聚光镜校正,可同时获取样品的ADF、ABF图像 2. 加速电压:60 keV及200 keV 3. 配备能谱探头及GIF EELS能量过滤器 ——代表性工作 Adv. Mater. 2022, 2203503 Adv. Funct. Mater. 2021, 2109529; 2022, 202112956; 2022, 2205880 Angew. Chem. Int. Edt. 2022, 202201